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熱裂解鄰苯4項(xiàng)分析儀 Rohs有害物質(zhì)檢測儀器

簡要描述：熱裂解鄰苯4項(xiàng)分析儀 Rohs有害物質(zhì)檢測儀器就是歐盟RoHS測試標(biāo)準(zhǔn)的檢測儀器。簡單的說就是測試鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價(jià)鉻Cr6+，多溴二苯醚PBDE，多溴聯(lián)苯PBB六種有害物質(zhì)的儀器。

產(chǎn)品型號：R-350
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-09-05
訪問量：614

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詳細(xì)介紹

品牌	SKYRAY/天瑞儀器	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,紡織/印染,汽車及零部件,電氣,綜合
儀器重量	45KG	元素分析范圍	硫（S）~?鈾（U）
分析含量	ppm?~?99.99％	能量分辨率	144±5eV
儀器尺寸	550mm×410mm×320mm

熱裂解鄰苯4項(xiàng)分析儀 Rohs有害物質(zhì)檢測儀器具備了精確，高效的特點(diǎn)，配備了最新型的X射線管，超高分辨率的探測器，全自動(dòng)RoHS測試平臺，*電子制冷技術(shù)，是海關(guān)，質(zhì)檢，實(shí)驗(yàn)室，工廠進(jìn)行有害物質(zhì)檢測的有效工具。

熱裂解鄰苯4項(xiàng)分析儀 Rohs有害物質(zhì)檢測儀器：rohs指令是國家剛頒布的《電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》的簡稱。顧名思義，RoHS檢測儀是一種檢測ROHS的檢測儀，原理是利用X射線檢測ROHS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中的元素的含量，這些元素包括：

1．鉛 1000ppm以下 4．六價(jià)鉻 1000ppm以下

2．水銀 1000ppm以下 5．多溴聯(lián)苯（PBB） 1000ppm以下

3．鎘 100ppm以下 6．多溴二苯醚（PBDE） 1000ppm以下

RoHS檢測儀有很多種，價(jià)格也不等，但都比較貴，只有大的檢測中心和大型的公司有。目前很多專門機(jī)構(gòu)都提供ROHS檢測的服務(wù)。

熱裂解鄰苯4項(xiàng)分析儀 Rohs有害物質(zhì)檢測儀器

應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

性能優(yōu)勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺，方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的輻射水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護(hù)

技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍：15℃ ~ 30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg

儀器配置

移動(dòng)樣品平臺
SDD探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

熱裂解鄰苯4項(xiàng)分析儀 Rohs有害物質(zhì)檢測儀器

ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件，相對簡單。

波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：

nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）

式中，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息。

能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：

Q=kE

式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。

待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

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